GB/T 45968-2025 现行 国家标准

GB/T 45968-2025 量子信息用光学级近化学计量比铌酸锂晶体

GB/T 45968-2025 Optical near stoichiometric lithium niobate crystal used in quantum information

发布日期: 2025-08-01 实施日期: 2026-02-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
价格: $ 50.00
无货

基本信息

标准编号: GB/T 45968-2025
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 人工晶体
国际标准分类名称: 电子技术专用材料
发布日期: 2025-08-01
实施日期: 2026-02-01
发布单位/组织: 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位: 全国人工晶体标准化技术委员会(SAC/TC 461)
页数: 24 页

适用范围

本文件规定了量子信息用光学级近化学计量比铌酸锂晶体的技术要求、检测方法、检查与验收规则,以及包装、标签、储存和运输等。
本文件适用于厚度分别为0.5 mm 和1 mm,直径为3 英寸(in)、4 in 和6 in,x 切和z 切的量子信息用光学级近化学计量比铌酸锂晶体双抛片的设计、生产、检验和验收。主要应用对象为光学超晶格、电光调制器、铌酸锂光波导器件、铌酸锂单晶薄膜等。
注: 1 in=25.4 mm。

研制信息

起草单位:

济南量子技术研究院、山东大学、中国科学院新疆理化技术研究所、南京大学、中电科技德清华莹电子有限公司、济南晶正电子科技有限公司、苏州南智芯材科技有限公司、暨南大学、北京浦丹光电股份有限公司、安徽科瑞思创晶体材料有限责任公司、天津津航技术物理研究所、北京世维通科技股份有限公司、天通控股股份有限公司、上海东城电子材料有限公司、中国科学院空天信息创新研究院

起草人:

王东周、桑元华、孙军、宋伟、刘宏、赵刚、胡文、王孚雷、于法鹏、李胜雨、郑名扬、卢惠辉、向美华、罗毅、孙文宝、付振东、郑远生、徐秋峰、方志强、朱卫俊、郭广妍、李春忠

字数: 31 千字 页数: 24 页

引用标准

GB/T 191-2000 包装储运图示标志 GB/T 191-2008 包装储运图示标志 GB/T 1185-2006 光学零件表面疵病 GB/T 1216-1985 外径千分尺 GB/T 1216-2004 外径千分尺 GB/T 1216-2018 外径千分尺 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 3389-2008 压电陶瓷材料性能测试方法 性能参数的测试 GB/T 3389.1-1996 铁电压电陶瓷词汇 GB/T 3389.2-1999 压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试 GB/T 3389.3-2001 压电陶瓷材料性能试验方法 居里温度Tc的测试 GB/T 3389.4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法 柱体纵向长度伸缩振动模式 GB/T 3389.5-1995 压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式 GB/T 3389.6-1997 压电陶瓷材料性能测试方法 长方片厚度切变振动模式 GB/T 3389.7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法 强场介电性能的测试 GB/T 3389.8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法 热释电系数的测试 GB/T 6426-1999 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法 GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法 GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法 GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法 GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法 GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法 GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法 GB/T 7962.2-1987 无色光学玻璃测试方法 光学均匀性平行光管测试方法 GB/T 7962.2-2010 无色光学玻璃测试方法 第2部分:光学均匀性 斐索平面干涉法 GB/T 11297.12-2012 光学晶体消光比的测量方法 GB/T 11297.12-1989 电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法 GB/T 20919-2007 电子数显外径千分尺 GB/T 20919-2018 电子数显外径千分尺 GB/T 22453-2008 硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 GB/T 22453-2025 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法 GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法 GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法 GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法 GB/T 34210-2017 蓝宝石单晶晶向测定方法 JB/T 9495.3-1999 光学晶体透过率测量方法 GB/T 191-2025 包装储运图形符号标志 GB/T 6426-2025 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法

相关标准

联系我们