GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 30652-2014
被代替
国家标准
GB/T 30652-2014 硅外延用三氯氢硅
GB/T 30652-2014 Trichlorosilane for silicon epitaxial
基本信息
标准编号:
GB/T 30652-2014
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
化合物半导体材料
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2014-12-31
实施日期:
2015-09-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)
页数:
5 页
适用范围
本标准规定了硅外延用三氯氢硅(SiHCl3)的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证明书以及订货单 (或合同)内容。
本标准适用于以粗三氯氢硅为原料经过提纯而制得的硅外延用三氯氢硅(以下简称产品)。
研制信息
起草单位:
中锗科技有限公司、南京国盛电子有限公司、南京中锗科技股份有限公司
起草人:
柯尊斌、刘新军、郑华荣、谭卫东、金龙
被以下标准替代
引用标准
国务院令第591号 危险化学品安全管理条例
GB 190-1990 危险货物包装标志
GB 190-2009 危险货物包装标志
GB/T 191-2000 包装储运图示标志
GB/T 191-2008 包装储运图示标志
GB 16483-2000 化学品安全技术说明书 编写规定
GB/T 16483-2008 化学品安全技术说明书 内容和项目顺序
GB/T 28654-2012 工业三氯氢硅
GB/T 28654-2018 工业三氯氢硅
GB/T 29056-2012 硅外延用三氯氢硅化学分析方法 硼、铝、磷、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、钼、砷和锑量的测定 电感耦合等离子体质谱法
YS/T 987-2014 氯硅烷中碳杂质的测定方法 甲基二氯氢硅的测定
YS/T 987-2021 氯硅烷中碳含量的测定 气相色谱质谱联用法
GB/T 191-2025 包装储运图形符号标志
GB/T 29056-2025 硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法