GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 12965-1996
被代替
国家标准
GB/T 12965-1996 硅单晶切割片和研磨片
GB/T 12965-1996 Monocrystalline silicon as cut slices and lapped slices
基本信息
标准编号:
GB/T 12965-1996
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
元素半导体材料
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
1996-11-04
实施日期:
1997-04-01
发布单位/组织:
国家技术监督局
归口单位:
中国有色金属工业总公司标准计量研究所
页数:
12 页
研制信息
起草人:
王从赞、郭瑾、吴福立
替代以下标准
GB 12965-1991
被以下标准替代
引用标准
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
GB 1556-79
GB 2828-87
GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法
GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法
GB 11073-89
GB/T 12962-1996 硅单晶
GB/T 13387-92
GB 14140-93
GB 14844-93
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法