GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 26072-2010
现行
国家标准
GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
GB/T 26072-2010 Germanium single crystal for solar cell
基本信息
标准编号:
GB/T 26072-2010
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
元素半导体材料
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2011-01-10
实施日期:
2011-10-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
页数:
6 页
适用范围
本标准规定了太阳能电池用锗单晶棒的术语、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单内容。
本标准适用于垂直梯度凝固法(VGF)和直拉法(CZ)制备的太阳能电池用锗单晶滚圆棒。
研制信息
起草单位:
云南临沧鑫圆锗业股份有限公司
起草人:
惠峰、普世坤、包文东、郑洪、张莉萍、孙小华、苏小平、王向武
引用标准
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法
GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
GB/T 14264-1993 半导体材料术语
GB/T 14264-2009 半导体材料术语
GB/T 14264-2024 半导体材料术语
GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
GB/T 4326-2025 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法