GB/T 20228-2006 被代替国家标准

GB/T 20228-2006 砷化镓单晶

GB/T 20228-2006 Gallium arsenide single crystal

发布日期: 2006-04-21 实施日期: 2006-10-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 20228-2006

标准类型: 国家级标准

标准状态: 被代替

is_force_gb: no

中国标准分类名称: 化合物半导体材料

国际标准分类名称: 半导体材料

发布日期: 2006-04-21

实施日期: 2006-10-01

发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

归口单位: 信息产业部(电子)

页数: 5 页

研制信息

起草单位:

北京有色金属研究总院

起草人:

王继荣、武壮文、于洪国、张海涛

字数: 7 千字 页数: 5 页

被以下标准替代

GB/T 20228-2021 砷化镓单晶

引用标准

GJB 1927 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 GB/T 8760-1988 砷化镓单晶位错密度的测量方法 GB/T 8760-2006 砷化镓单晶位错密度的测量方法 GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法 GB/T 14264-1993 半导体材料术语 GB/T 14264-2009 半导体材料术语 GB/T 14264-2024 半导体材料术语 GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法 GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法 GB/T 4326-2025 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

相关标准

GB/T 11093-1989 被代替

GB/T 11093-1989 液封直拉法砷化镓单晶及切割片

发布日期: 1989-03-31

GB/T 13388-1992 被代替

GB/T 13388-1992 硅片参考面结晶学取向Ｘ射线测量方法

发布日期: 1992-02-19

GB/T 13389-1992 被代替

GB/T 13389-1992 掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程

发布日期: 1992-02-19

GB/T 13843-1992 废止

GB/T 13843-1992 蓝宝石单晶抛光衬底片

发布日期: 1992-12-28

GB/T 14015-1992 现行

GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片

发布日期: 1992-12-28

GB/T 14139-1993 被代替

GB/T 14139-1993 硅外延片

发布日期: 1993-02-06