GB/T 11093-1989
被代替
GB/T 25074-2025
现行
国家标准
GB/T 25074-2025 太阳能级硅多晶
GB/T 25074-2025 Solar-grade polycrystalline silicon
基本信息
标准编号:
GB/T 25074-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
元素半导体材料
国际标准分类名称:
半导体材料
发布日期:
2025-06-30
实施日期:
2026-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
页数:
12 页
适用范围
本文件规定了太阳能级硅多晶的牌号及分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件和订货单等内容。
本文件适用于以氯硅烷、硅烷为原料生长的太阳能级硅多晶(以下简称硅多晶)。
研制信息
起草单位:
洛阳中硅高科技有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、四川永祥股份有限公司、新特能源股份有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、新疆大全新能源股份有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、新疆东方希望新能源有限公司、青海南玻新能源科技有限公司、青海丽豪清能股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、TCL中环新能源科技股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、浙大宁波理工学院、内蒙古兴洋科技股份有限公司
起草人:
万烨、贺东江、严大洲、宁晓晓、张园园、李素青、郭树虎、徐顺波、杨晓东、宗冰、李豪杰、秦榕、张科、梁波、冉祎、邓浩、张雪囡、王彬、胡动力、朱玉龙、陶刚义
替代以下标准
引用标准
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GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
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GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
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