GB/T 12963-2022 现行 国家标准

GB/T 12963-2022 电子级多晶硅

GB/T 12963-2022 Electronic-grade polycrystalline silicon

发布日期: 2022-12-30 实施日期: 2023-07-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 12963-2022
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 元素半导体材料
国际标准分类名称: 半导体材料
发布日期: 2022-12-30
实施日期: 2023-07-01
发布单位/组织: 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
页数: 7 页

适用范围

本文件规定了电子级多晶硅的牌号和类别、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件和订货单内容。本文件适用于以氯硅烷、硅烷制得的电子级多晶硅(以下简称“多晶硅”)。

研制信息

起草单位:

江苏鑫华半导体科技股份有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、有研半导体硅材料股份公司、麦斯克电子材料股份有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、新特能源股份有限公司、四川永祥新能源有限公司、上海赛夫特半导体材料有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、东方电气(乐山)峨半高纯材料有限公司

起草人:

田新、蒋文武、赵培芝、万首正、李素青、秦榕、王彬、孙燕、贺东江、陈卫群、宗冰、徐岩、邱艳梅、李斌、刘晓霞、张遵、付绪光、董先君、潘金平、张园园、雷聪

字数: 12 千字 页数: 7 页

替代以下标准

引用标准

GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法 GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法 GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法 GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法 GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法 GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法 GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法 GB/T 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法 GB/T 4059-1983 硅多晶气氛区熔磷检验方法 GB/T 4059-2007 硅多晶气氛区熔基磷检验方法 GB/T 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法 GB/T 4060-1983 硅多晶真空区熔基硼检验方法 GB/T 4060-2007 硅多晶真空区熔基硼检验方法 GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法 GB/T 4061-1983 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 GB/T 4061-2009 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 GB/T 14264-1993 半导体材料术语 GB/T 14264-2009 半导体材料术语 GB/T 14264-2024 半导体材料术语 GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法 GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法 GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测试方法 GB/T 24581-2022 硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 GB/T 24582-2009 酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定 多晶硅表面金属杂质 GB/T 24582-2023 多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 GB/T 29057-2023 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 GB/T 35306-2023 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 GB/T 37049-2018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

相关标准

联系我们