GB/T 12964-2018 现行 国家标准

GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片

GB/T 12964-2018 Monocrystalline silicon polished wafers

发布日期: 2018-09-17 实施日期: 2019-06-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 12964-2018
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 元素半导体材料
国际标准分类名称: 半导体材料
发布日期: 2018-09-17
实施日期: 2019-06-01
发布单位/组织: 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)
页数: 10 页

适用范围

本标准规定了硅单晶抛光片(简称硅抛光片)的牌号及分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。本标准适用于直拉法、悬浮区熔法(包括中子嬗变掺杂和气相掺杂)制备的直径不大于200 mm的硅单晶抛光片。产品主要用于制作集成电路、分立元件、功率器件等,或作为硅外延片的衬底。

研制信息

起草单位:

有研半导体材料有限公司、上海合晶硅材料有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、浙江海纳半导体有限公司、浙江省硅材料质量检验中心、有色金属技术经济研究院、天津市环欧半导体材料技术有限公司

起草人:

孙燕、卢立延、徐新华、张海英、楼春兰、杨素心、潘金平、张雪囡

字数: 18 千字 页数: 10 页

替代以下标准

引用标准

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